Košík
zboží
(prázdné)
In this book, the bases of imaging and diffraction in transmission electron microscopy (TEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM) are explained in the style of a textbook.
číst celé
In this book, the bases of imaging and diffraction in transmission electron microscopy (TEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM) are explained in the style of a textbook.
schovat popis
- Nakladatel: Springer Verlag, Japan
- Kód:
- Rok vydání: 2017
- Jazyk: Angličtina
- Vazba: Gebunden
- Počet stran: 333
- Šířka balení: 24.1 cm
- Výška balení: 16.2 cm
- Hloubka balení: 2.7 cm
- Váha balení: 750 g
Recenze