Recenze Characterization of Micro- and Nanometer Resolved Technical Surfaces with Function-oriented Parameters /Charakterisierung von Mi

Characterization of Micro- and Nanometer Resolved Technical Surfaces with Function-oriented Parameters /Charakterisierung von Mi

Characterization of Micro- and Nanometer Resolved Technical Surfaces with Function-oriented Parameters /Charakterisierung von Mi

Tan, Özgür
1 006 Kč
Zobrazit knihu

Recenze

0
Ověřené recenze jsou tak výslovně označené, ostatní jsou neověřené.
Nejsou zde žádné recenze. Buďte první a napište svoji!