Recenze Atomic Force Microscopy

Atomic Force Microscopy

Atomic Force Microscopy

6 321 Kč
Zobrazit knihu
After the introduction of the optical microscope, a second breakthrough in morphostructural surface analysis occurred in the 1940s with the development of the scanning electron microscope (SEM), which, instead of light (i. číst celé 

Recenze

0
Ověřené recenze jsou tak výslovně označené, ostatní jsou neověřené.
Nejsou zde žádné recenze. Buďte první a napište svoji!