Košík
zboží
(prázdné)
Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy (anglicky)
990
Kč
DMOC 1 250 Kč
AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science and nano-technology. The AFM is capable of measuring nanometer scale images of insulating surfaces with thickness as well as measuring three dimensional images of surfaces and studying the topography. It is very suitable for...
číst celé
- Mohlo by Vás také zaujmout
- Další knihy autora
- Další zboží nakladatele
- Naposledy prohlédnuté
Podobní autoři
Návrh štítků k produktu
Navrhněte maximálně 5 klíčových slov (štítků) k tomuto produktu.
Za každý přidaný štítek musíte poté 5x ohodnotit štítky ostatních.
Nezapomeňte navrhnuté štítky uložit stisknutím tlačítka „Uložit přidané štítky“.
K této knize jste navrhli štítky:
Hodnocení štítků
V tuto chvíli není co ohodnotit.
Klikněte na štítek, který se více hodí k produktu.
![]()
Nyní následuje 5x hodnocení štítků ostatních.
Proč nakupovat u nás?
-
Největší skladové zásoby sortiment všeho druhu -
Levná doprava doslova za pár kaček -
Spokojení zákazníci známka kvality -
Vyzvednutí kdekoliv místo vybíráte vy -
Skvělá zákaznická podpora neváhejte zavolat
Hodnocení
Ověřené recenze jsou tak výslovně označené, ostatní jsou neověřené.
Nejsou zde žádné recenze. Buďte první a napište svoji!
Kniha návstěv
Ověřené příspěvky jsou tak označené, ostatní jsou neověřené.
