Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (anglicky)

· Springer-Verlag New York Inc. · 2013 · brožovaná · 689 stran

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (anglicky)

Celou objednávku Vám odešleme v jednom balíku za 1 poštovné!
1 884 Kč
1 884 Kč
DMOC 2 076 Kč
Produkt momentálně není dostupný.
Podívejte se na dostupné alternativy.
An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. číst celé 
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (anglicky)
Produkt momentálně není dostupný.
1 884 Kč
  • Mohlo by Vás také zaujmout
  • Další knihy autora
  • Další zboží nakladatele
  • Naposledy prohlédnuté
  • Podobní autoři

Podobní autoři

Návrh štítků k produktu

Navrhněte maximálně 5 klíčových slov (štítků) k tomuto produktu.

Za každý přidaný štítek musíte poté 5x ohodnotit štítky ostatních.

Nezapomeňte navrhnuté štítky uložit stisknutím tlačítka „Uložit přidané štítky“.

K této knize jste navrhli štítky:

    Hodnocení štítků

    Klikněte na štítek, který se více hodí k produktu.

    Nyní následuje 5x hodnocení štítků ostatních.


    Benefits icon Proč nakupovat u nás?

    • Největší skladové zásoby sortiment všeho druhu
    • Levná doprava doslova za pár kaček
    • Spokojení zákazníci známka kvality
    • Vyzvednutí kdekoliv místo vybíráte vy
    • Skvělá zákaznická podpora neváhejte zavolat
    Ověřené recenze jsou tak výslovně označené, ostatní jsou neověřené.
    Nejsou zde žádné recenze. Buďte první a napište svoji!
    Váš avatar
    Vybrat si
    Jméno
    Vaše recenze
    0

    Kniha návštěv

    Ověřené příspěvky jsou tak označené, ostatní jsou neověřené.

    Alkohol mohou nakupovat pouze osoby starší 18 let.

    Prosím potvrďte, že Vám již bylo 18 let.