Košík
zboží
(prázdné)
\nMulti-probe UHV machine instrumentation.- Nano-material nanowires charaterisation.- Surface conductance measurements.- Surface atomic scale machineries (transistor, logic gate, mechanics).- Industrial applications.\n
číst celé
\n
Multi-probe UHV machine instrumentation.- Nano-material nanowires charaterisation.- Surface conductance measurements.- Surface atomic scale machineries (transistor, logic gate, mechanics).- Industrial applications.
\n schovat popis- Nakladatel: Springer, Berlin
- Kód:
- Rok vydání: 2016
- Jazyk: Angličtina
- Vazba: Měkká
- Počet stran: 244
- Šířka balení: 15.5 cm
- Výška balení: 23.5 cm
Recenze