Košík
zboží
(prázdné)
-
Clean & Dirty
Tan, Cher MingNení skladem 179 KčDo košíku -
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Tan, Cher MingNení skladem 430 KčDo košíku -
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
Tan, Cher MingNení skladem 1 119 KčDo košíku -
Near and Far
Tan, Cher MingNení skladem 228 KčDo košíku -
Graphene and VLSI Interconnects
Tan, Cher MingNení skladem 3 988 KčDo košíku -
Fast and Slow
Tan, Cher MingNení skladem 246 KčDo košíku
Naposledy prohlédnuté
Vyzvednutí zásilky kdekoliv v ČR
