Košík
zboží
(prázdné)
-
Failure analysis of Hot-Electron Effect on power RF N-LDMOS transistor
Belaïd, Mohamed AliNení skladem 990 KčDo košíku -
Fiabilité et sûreté de fonctionnement des composants électroniques
Belaïd, Mohamed AliNení skladem 1 311 KčDo košíku
Naposledy prohlédnuté
Vyzvednutí zásilky kdekoliv v ČR
